Las patentes, además de constituir una figura de protección de los resultados de investigación y las innovaciones, son una fuente de información científica y técnica de gran valor. Por ello, la Fundació Parc Científic Universitat de València (FPCUV) ha organizado hoy, 18 de octubre, junto a la Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM), una jornada en la que se mostrará cómo aprovechar la información que contiene una patente en la investigación y el estado del arte.
Con tal propósito, Carmen Toledo de la Torre, Jefe de la Unidad de Información Tecnológica del Departamenton de Patentes e Información Tecnológica de la OEPM, explicará los conceptos básicos para entender un documento de patente; enseñará cómo buscar en bases de datos de patentes gratuitas; y especificará los servicios de vigilancia tecnológica que ofrece la oficina.
El objetivo es “acabar con la percepción de estos documentos como un obstáculo a la investigación universitaria y orientar a los científicos a sacar provecho de las patentes para sus proyectos”, señala Carmen Toledo. Además, informará de las novedades incorporadas a la nueva Ley de Patentes y matizará qué y cómo se patenta en España y en el extranjero.
En la jornada también participará María José Ortolá, Subdirectora de Economía Social y Emprendimiento de la Conselleria de Economía Sostenible, Sectores Productivos, Comercio y Trabajo, quien señalará cual es la gestión que corresponde al Banco de Patentes de la Generalitat.
Entrevistas bilaterales
La inscripción a la jornada es gratuita y se realiza desde el siguiente enlace: https://www.pcuv.es/es/jornadas/inscripcion-ley-patentes-2017
Además, los asistentes podrán concertar, previa solicitud en la inscripción a la jornada, una entrevista bilateral con la OEPM. Se deberá solicitar a la dirección admon.pcuv@uv.es, con fecha límite el 16 de octubre y las peticiones se atenderán por orden de llegada. Las reuniones durarán un máximo de 15 minutos.